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影響回路電阻測(cè)試儀接觸電阻的原因有哪些?
更新時(shí)間:2014-05-26   點(diǎn)擊次數(shù):2333次
   HLY-III回路電阻測(cè)試儀是采用數(shù)字電路技術(shù)和開關(guān)電路技術(shù)制作,它是用于開關(guān)控制設(shè)備的接觸電阻。

  HLY-III回路電阻測(cè)試儀測(cè)量準(zhǔn)確、性能穩(wěn)定、適合電力,供電部門現(xiàn)場(chǎng)高壓開關(guān)維修和高壓開關(guān)廠回路電阻測(cè)試的要求。

  影響回路電阻測(cè)試儀接觸電阻的原因有哪些呢?

  1.材料性質(zhì):硬度、化學(xué)性質(zhì)、金屬化合物的機(jī)械強(qiáng)度與電阻率。

  2.接觸壓力。

  3.接觸形式:點(diǎn)接觸、線接觸、面接觸。

  4.接觸面狀況:當(dāng)接觸面形成氧化膜時(shí)(銀例外),氧化膜比金屬本身的電阻要大得多。

  5.接觸表面的粗糙度。

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